近期透射电子显微术基础理论与实验培训研讨会

发布时间:2016-12-16

        由中国电子显微镜学会主办,中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所协办的透射电子显微术基础理论与实验培训研讨会将于2017年1月11-17日在苏州纳米所举行。

        会议目的是为国内电镜室或需要电镜基本理论与技术的研究生解决电镜专业人才的培养问题进行讨论,介绍透射电镜的成像原理,并结合实验操作和参会人员的上机实践。希望在一周的时间内将他们带入电子显微领域,掌握基本理论背景并可独立操作获取常用电镜方法的实验结果(本次培训不涉及球差校正电子显微镜问题)。

 

培训会议日期、地点与简介

地点:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所测试平台电子显微镜室

日期:2017年1月11-17日(11日报到)

简介:此培训会议采用讨论、讲座与电镜实验交叉进行的方式。理论讨论时间不低于10小时(包括讲课、习题、实验预备、答疑和考试),电镜实验时间将保证每个成员不低于5小时/电镜小时。此次接收两类参会人员:(1)仅参加会议的讨论部分(限于20人);(2)讨论+电镜实验操作(限于8人)。

费用:参加理论讲座与讨论(费用:2000元);参加实验讲解与自行操作(费用:4000元);食宿自理。因时间紧张,请抓紧时间报名,学会将委托协办方提供附近酒店供住宿选择。

 

会议内容

Ⅰ. TEM基本理论与问题:

     讨论和讲授内容:

   (1)透射电子显微主讲结构与电子光学系统。

    (2)电子与薄晶体的相互作用——运动学成像理论。

    (3)原子分辨的高分辨像基本原理(动力学散射)。

    (4)扫描透射原理与EDS扫描分析。

    实验安排:

   (1)TEM基本操作方法(透射电镜基本构造、功能与合轴原理)。

   (2)HR-TEM原子高分辨像的获得与相应电子衍射谱。

   (3)STEM模式成像与扫描分析(一维线扫与二维面扫EDS谱与像的获得)。

Ⅱ. 材料中TEM问题的讨论与解决方法:

     A – 膜材料缺陷的电镜观察(以半导体为例);

     B – 参会人员提供的样品的电镜问题的讨论与实验演示,为有一定透射电镜基础的人员进一步掌握一些实用透射电镜技术的方法。

    内容包含:

   (1) 电子衍射原理与衍射图的标定

   (2)晶体学基础与利用电子衍射确定结构

   (3)晶体缺陷观察的衍射衬度原理,双光束衍衬像的明场、暗场和弱束方法等

   (4)3D-TEM 演示或相关

     电镜实验

    (1)电镜操作的讲解、示范与分组自行操作;

    (2)本次培训会议主要采用FEI-F20型场发射电镜和HitachiHT7700型透射电镜进行操作培训,另,FEI Talos TEM 将进行演示。

 

报名办法

      1.   报名:李宁春,许芬秀(中国电子显微镜学会;电话:010-82671519,18901263882; E-mail:dzxwxb@126.com(许芬秀);E-maildzxwxb@blem.ac.cn(李宁春))

      2.   缴费:胡萍(中国电子显微镜学会;电话:010-82673560,13552527930;

E-mail:cemshp@163.com)

      3.  技术咨询:张锦平(中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所测试分析平台;电话:13776040796(手机);0512-62872601(办);E-mail:jpzhang2008@sinano.ac.cn

说明:由于电镜学会财务委托北京工业大学代管,北京工业大学财务发票无培训费项目,此次电镜培训以实验培训研讨会为题,请学员申请时向负责老师说明

  

户名:北京工业大学

帐号:  0200003709089028526

开户行:工商银行北京广渠路支行

说明:由于中国电子显微镜学会无独立账户,现财务委托北京工业大学代管,所以汇款必须加附言:《电镜学会》